Το μέλλον των stealth
Η stealth τεχνολογία (βασισμένη στη χρήση ειδικών υλικών και ιδιαίτερου (γεωμετρικά) σχεδιασμού για δραστική μείωση του ίχνους ραντάρ ενός αεροσκάφους ή πλεούμενου) θεωρήθηκε δικαίως «game changer» στη στρατιωτική τεχνολογία.
Ωστόσο «πολύ νερό έχει κυλήσει στο αυλάκι» έκτοτε και αυτό που κάποτε ήταν επαναστατικό χρησιμοποιείται πλέον σε πολύ μεγάλο εύρος οπλικών συστημάτων, από διάφορες χώρες, με αποτέλεσμα πολλοί να θεωρούν ότι η εποχή της κυριαρχίας του stealth ως καθοριστικού παράγοντα σε πολεμικές επιχειρήσεις αργά ή γρήγορα θα παρέλθει, καθώς τα μυστικά του είναι σε μεγάλο βαθμό γνωστά και ως εκ τούτου ενισχύονται τα σχετικά αντίμετρα.
Όπως γίνεται εύκολα αντιληπτό η «κόντρα» αυτή συνεχίζεται: Ομάδα Κινέζων επιστημόνων ανέπτυξε ένα λεπτό ηλεκτρονικό υλικό το οποίο μπορεί να καλύπτει ένα αντικείμενο και να απορροφά τα σήματα ραντάρ σε ένα μεγάλο εύρος συχνοτήτων. Όπως σημειώνεται σε σχετικό δημοσίευμα του Gizmag, η Super High Frequency (SHF) χρησιμοποιείται από πολλά στρατιωτικά ραντάρ ελέγχου πυρός για την καθοδήγηση πυραύλων στους στόχους τους και τον εντοπισμό αντικειμένων.
Τα σημερινά stealth υλικά και οι γεωμετρίες τους είναι αποτελεσματικά στην απόκρυψη από συστήματα που λειτουργούν σε αυτές τις συχνότητες. Ωστόσο, συστήματα ραντάρ που λειτουργούν σε UHF (Ultra High Frequency) είναι πιο ικανά στον εντοπισμό stealth υλικών/ οπλικών συστημάτων.
Σε ένα νέο σύστημα (AFSS, Active Frequency Selecting Surface), υλικό που αναπτύχθηκε από ερευνητές του Πανεπιστημίου Επιστήμης και Τεχνολογίας του Χουαζόνγκ παρουσιάζεται πιο αποτελεσματικό, καθώς απορροφά τις εκπομπές ενώ παραμένει λεπτό, χρησιμοποιώντας ενεργητικά ηλεκτρονικά στοιχεία για να ρυθμίζει την αποτελεσματικότητά του στις εκάστοτε συχνότητες- οπότε βασίζεται σε κυκλώματα αντί για «όγκο απορρόφησης» για να επιτυγχάνει τον στόχο του.
Αποτελείται από τέσσερα στρώματα διαφορετικών υλικών, συνολικού πάχους 7,8 χιλιοστών. Το σχετικό κύκλωμα λειτουργεί ως κεραία και ρυθμίζει την απορρόφηση σημάτων ραντάρ. Το paper με την εν λόγω έρευνα δημοσιεύθηκε στο Journal of Applied Physics.
armynews.gr
2.jpg?t=MhM5y__xOFjCVsWlc7UhPQ)
